|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Economic Analysis of Test Process Flows for Multichip Modules Using Known Good Die |
| Auteur: |
Murphy, Cynthia F. Abadir, Magdy S. Sandborn, Peter A. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 10 (1997) nr. 1-2 pagina's 151-166 |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |