|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Simulation Techniques for the Manufacturing Test of MCMs |
| Auteur: |
Tegethoff, Mick Chen, Tom |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 10 (1997) nr. 1-2 pagina's 137-149 |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |