|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
Lifetime Prediction and Design-for-Reliability of IC Interconnections with Electromigration Induced Degradation in the Presence of Manufacturing Defects |
| Auteur: |
Xuan, Xiangdong Singh, Adit D. Chatterjee, Abhijit |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 22 (2006) nr. 4-6 pagina's 471-482 |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 17 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |