|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
Test Development Through Defect and Test Escape Level Estimation for Data Converters |
| Auteur: |
Wegener, Carsten Kennedy, Michael Peter |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 22 (2006) nr. 4-6 pagina's 313-324 |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 17 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |