|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
Structural Fault Modeling and Fault Detection Through Neyman–Pearson Decision Criteria for Analog Integrated Circuits |
| Auteur: |
Zjajo, Amir Pineda de Gyvez, Jose Gronthoud, Guido |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 22 (2006) nr. 4-6 pagina's 399-409 |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 17 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |