|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
A BIST Scheme for SNDR Testing of ΣΔ ADCs Using Sine-Wave Fitting |
| Auteur: |
Rolíndez, Luis Mir, Salvador Bounceur, Ahcéne Carbonéro, Jean-Louis |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 22 (2006) nr. 4-6 pagina's 325-335 |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 17 gevonden artikelen
| volgende >> |