|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Atomic Force Microscopy Examination of the Evolution of the Surface Morphology of \hbox{Bi}_{4}\hbox{Ti}_{3}\hbox{O}_{12} grown by Molecular Beam Epitaxy |
| Auteur: |
G.W. Brown M.E. Hawley C.D. Theis J. Yeh D.G. Schlom |
| Verschenen in: |
Journal of electroceramics |
| Paginering: | Jaargang 4 (2000) nr. 2 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2000-06 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |