|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Atomic Force Microscopy Examination of the Evolution of the Surface Morphology of Bi4Ti3O12 grown by Molecular Beam Epitaxy |
| Auteur: |
Brown, G.W. Hawley, M.E. Theis, C.D. Yeh, J. Schlom, D.G. |
| Verschenen in: |
Journal of electroceramics |
| Paginering: | Jaargang 4 (2000) nr. 2-3 pagina's 351-356 |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |