| |
TEM, XPS and SIMS Analyzes on Grain Boundary of Lanthanum Chromites |
| |
|
|
| |
| Titel: |
TEM, XPS and SIMS Analyzes on Grain Boundary of Lanthanum Chromites |
| Auteur: |
Sakai, Natsuko Tsunoda, Tatsuo Fukumoto, Natsuo Kojima, Isao Yamaji, Katsuhiko Horita, Teruhisa Ishikawa, Masahiko yokokawa, Harumi Dokiya, masayuki |
| Verschenen in: |
Journal of electroceramics |
| Paginering: |
Jaargang 4 (1999) nr. 1 pagina's 121-128 |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: |
|
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
| |
|
|
| |
|