Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 87 van 93 gevonden artikelen
 
 
  Threshold energy and impact ionization scattering rate calculations for strained silicon
 
 
Titel: Threshold energy and impact ionization scattering rate calculations for strained silicon
Auteur: May, C.
Bufler, F. M.
Verschenen in: Journal of computational electronics
Paginering: Jaargang 6 () nr. 1-3 pagina's 23-26
Jaar: 2007-01-18
Inhoud:
Uitgever: Kluwer Academic Publishers-Plenum Publishers, New York
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 87 van 93 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland