|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 93 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of nano-scale MOSFET including uniaxial and biaxial strain |
| Auteur: |
Tanabe, Ryo Yamasaki, Takahiro Ashizawa, Yoshio Oka, Hideki |
| Verschenen in: |
Journal of computational electronics |
| Paginering: | Jaargang 6 () nr. 1-3 pagina's 49-53 |
| Jaar: |
2007-01-18 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers-Plenum Publishers, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 93 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |