|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 45 van 51 gevonden artikelen
| Titel: |
Statistical study of the effect of interface charge fluctuations in HEMTs using a 3D simulator |
| Auteur: |
Seoane, N. García-Loureiro, A. J. Kalna, K. Asenov, A. |
| Verschenen in: |
Journal of computational electronics |
| Paginering: | Jaargang 5 () nr. 4 pagina's 385-388 |
| Jaar: |
2006-12-09 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers-Plenum Publishers, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 45 van 51 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |