|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 33 van 51 gevonden artikelen
| Titel: |
Numerical simulation and comparison of electrical characteristics between uniaxial strained bulk and SOI FinFETs |
| Auteur: |
Li, Yiming |
| Verschenen in: |
Journal of computational electronics |
| Paginering: | Jaargang 5 () nr. 4 pagina's 371-376 |
| Jaar: |
2006-12-09 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers-Plenum Publishers, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 33 van 51 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |