|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 62 gevonden artikelen
| Titel: |
A Computational Model of NBTI and Hot Carrier Injection Time-Exponents for MOSFET Reliability |
| Auteur: |
Kufluoglu, Haldun Alam, Muhammad Ashraful |
| Verschenen in: |
Journal of computational electronics |
| Paginering: | Jaargang 3 (2004) nr. 3-4 pagina's 165-169 |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 62 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |