|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 32 van 34 gevonden artikelen
| Titel: |
Study on single-event radiation effects and hardening techniques in GaN HEMTs |
| Auteur: |
Liu, Yuan Wang, Ying Huang, Hao |
| Verschenen in: |
Journal of computational electronics |
| Paginering: | Jaargang 24 () nr. 4 pagina's xx |
| Jaar: |
2025-06-30 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 32 van 34 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |