|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 37 van 39 gevonden artikelen
| Titel: |
TCAD analysis of single-event burnout caused by heavy ions for a GaN HEMT |
| Auteur: |
Li, Jian Wang, Ying Fei, Xin-Xing Sun, Biao Song, Yan-Xing Bao, Meng-Tian |
| Verschenen in: |
Journal of computational electronics |
| Paginering: | Jaargang 24 () nr. 1 pagina's xx |
| Jaar: |
2025-01-11 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 37 van 39 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |