|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 29 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigating single-event effects in recess gate GaN/AlN p-channel HEMTs for radiation-hardened application |
| Auteur: |
Chanchal, Kumari, Vandana Rawal, D. S. Saxena, Manoj |
| Verschenen in: |
Journal of computational electronics |
| Paginering: | Jaargang 23 () nr. 6 pagina's 1337-1344 |
| Jaar: |
2024-08-19 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 29 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |