Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 13 van 25 gevonden artikelen
 
 
  Modeling and analysis of gate-induced drain leakage current in negative capacitance junctionless FinFET
 
 
Titel: Modeling and analysis of gate-induced drain leakage current in negative capacitance junctionless FinFET
Auteur: Kaushal, Shelja
Rana, Ashwani K.
Verschenen in: Journal of computational electronics
Paginering: Jaargang 21 () nr. 6 pagina's 1229-1238
Jaar: 2022-08-16
Inhoud:
Uitgever: Springer US, New York
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 13 van 25 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland