|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 31 van 37 gevonden artikelen
| Titel: |
Statistical analysis of the impact of charge traps in p-type MOSFETs via particle-based Monte Carlo device simulations |
| Auteur: |
Rossetto, Alan C. J. Camargo, Vinicius V. A. Both, Thiago H. Vasileska, Dragica Wirth, Gilson I. |
| Verschenen in: |
Journal of computational electronics |
| Paginering: | Jaargang 19 () nr. 2 pagina's 648-657 |
| Jaar: |
2020-03-06 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 31 van 37 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |