|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 32 van 45 gevonden artikelen
| Titel: |
Random telegraph noise in gate-all-around silicon nanowire MOSFETs induced by a single charge trap or random interface traps |
| Auteur: |
Kola, Sekhar Reddy Li, Yiming Thoti, Narasimhulu |
| Verschenen in: |
Journal of computational electronics |
| Paginering: | Jaargang 19 () nr. 1 pagina's 253-262 |
| Jaar: |
2020-01-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 32 van 45 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |