|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 51 gevonden artikelen
| Titel: |
Avalanche breakdown evolution under hot-carrier stress: a new microscopic simulation approach applied to a vertical power MOSFET |
| Auteur: |
Jabs, Dominic Bach, Karl Heinz Jungemann, Christoph |
| Verschenen in: |
Journal of computational electronics |
| Paginering: | Jaargang 17 (2018) nr. 3 pagina's 1249-1256 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 51 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |