|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 57 gevonden artikelen
| Titel: |
A systematic investigation of the integrated effects of gate underlapping, dual work functionality and hetero gate dielectric for improved performance of CP TFETs |
| Auteur: |
Yadav, Dharmendra Singh Sharma, Dheeraj Tirkey, Sukeshni Bajaj, Varun |
| Verschenen in: |
Journal of computational electronics |
| Paginering: | Jaargang 17 (2017) nr. 1 pagina's 118-128 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 57 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |