|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 53 gevonden artikelen
| Titel: |
A systematic method for simulating total ionizing dose effects using the finite elements method |
| Auteur: |
Chatzikyriakou, Eleni Potter, Kenneth Groot, C. H. de |
| Verschenen in: |
Journal of computational electronics |
| Paginering: | Jaargang 16 (2017) nr. 3 pagina's 548-555 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 53 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |