|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of the RTN amplitude statistics of nanoscale MOS devices by the statistical impedance field method |
| Auteur: |
Torrente, Giulio Castellani, Niccolò Ghetti, Andrea Monzio Compagnoni, Christian Lacaita, Andrea L. Spinelli, Alessandro S. Benvenuti, Augusto |
| Verschenen in: |
Journal of computational electronics |
| Paginering: | Jaargang 12 (2013) nr. 4 pagina's 585-591 |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |