Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 11 van 22 gevonden artikelen
 
 
  Effect of underlap and soft error performance in 30 nm FinFET-based 6T-SRAM cells with simultaneous and independent driven gates
 
 
Titel: Effect of underlap and soft error performance in 30 nm FinFET-based 6T-SRAM cells with simultaneous and independent driven gates
Auteur: Ramakrishnan, V. N.
Srinivasan, R.
Verschenen in: Journal of computational electronics
Paginering: Jaargang 12 (2013) nr. 3 pagina's 469-475
Jaar: 2013
Inhoud:
Uitgever: Springer US, Boston
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 11 van 22 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland