|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Analyzing the distribution of threshold voltage degradation in nanoscale transistors by using reaction-diffusion and percolation theory |
| Auteur: |
Islam, Ahmad Ehteshamul Alam, Muhammad Ashraful |
| Verschenen in: |
Journal of computational electronics |
| Paginering: | Jaargang 10 (2011) nr. 4 pagina's 341-351 |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 10 gevonden artikelen
| volgende >> |