|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 54 gevonden artikelen
| Titel: |
Band-to-Band Tunneling by Monte Carlo Simulation for Prediction of MOSFET Gate-Induced Drain Leakage Current |
| Auteur: |
Kan, Edwin C. Narayanan, Venkat Pei, Gen |
| Verschenen in: |
Journal of computational electronics |
| Paginering: | Jaargang 1 (2002) nr. 1-2 pagina's 223-226 |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 54 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |