|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of semiconductor devices and wafer materials via sub-nanosecond time-correlated single-photon counting |
| Auteur: |
Buschmann, V. Hempel, H. Knigge, A. Kraft, C. Roczen, M. Weyers, M. Siebert, T. Koberling, F. |
| Verschenen in: |
Journal of applied spectroscopy |
| Paginering: | Jaargang 80 (2013) nr. 3 pagina's 449-457 |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |