|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
Quasi-TEM Analysis of a Shielded Microstrip Line of Elliptic Cross-Section with Finite Metallization Thickness Penetrating into the Substrate by the Finite Difference Method |
| Auteur: |
Wang, Qiang Liu, Changqing Li, Ying |
| Verschenen in: |
International journal of infrared and millimeter waves |
| Paginering: | Jaargang 21 (2000) nr. 1 pagina's 91-100 |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers-Plenum Publishers, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 32 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |