|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
A New Method to Measure Small Amounts of Solute Atoms on Planar Defects and Application to Inversion Domain Boundaries in Doped Zinc Oxide |
| Auteur: |
T. Walther N. Daneu A. Recnik |
| Verschenen in: |
Interface science |
| Paginering: | Jaargang 12 (2004) nr. 2 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2004-04/07-/07 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |