|
A Study of the Radiation Hardness of Si and SiC Detectors Using a Xe Ion Beam |
|
|
|
Titel: |
A Study of the Radiation Hardness of Si and SiC Detectors Using a Xe Ion Beam |
Auteur: |
Hrubčín, L. Gurov, Yu. B. Zaťko, B. Ivanov, O. M. Mitrofanov, S. V. Rozov, S. V. Sandukovsky, V. G. Semin, V. A. Skuratov, V. A. |
Verschenen in: |
Instruments and experimental techniques |
Paginering: |
Jaargang 61 (2018) nr. 6 pagina's 769-771 |
Jaar: |
2018 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Pleiades Publishing, Moscow |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|