|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Determining the thermal generation rate of minority charge carriers at semiconductor-ultrathin oxide interfaces |
| Auteur: |
Goldman, E. I. Kukharskaya, N. F. Naryshkina, V. G. Chucheva, G. V. |
| Verschenen in: |
Instruments and experimental techniques |
| Paginering: | Jaargang 54 (2011) nr. 6 pagina's 823-827 |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
SP MAIK Nauka/Interperiodica, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |