|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 56 gevonden artikelen
| Titel: |
A Method for Measuring the Raman Scattering Spectra of Thin Films |
| Auteur: |
Dianov, E. M. Intyushin, E. B. Koltashev, V. V. Plotnichenko, V. G. Chigirinskii, Yu. I. |
| Verschenen in: |
Instruments and experimental techniques |
| Paginering: | Jaargang 47 (2004) nr. 5 pagina's 662-664 |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers-Plenum Publishers, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 56 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |