|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 51 van 60 gevonden artikelen
| Titel: |
Measurement of the Minority Carrier Diffusion Length in Thin Wafers of Semiconductor Crystals |
| Auteur: |
I. A. Bolesov V. P. Astakhov V. V. Karpov |
| Verschenen in: |
Instruments and experimental techniques |
| Paginering: | Jaargang 46 (2003) nr. 2 pagina's 3 p. |
| Jaar: |
2003-03/04-/04 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic/Plenum Publishers, New York, U.S.A. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 51 van 60 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |