|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
An X-ray epitaxial film interferometer as a tool for studying the structure of a semiconductor heterosystem |
| Auteur: |
Fedorov, A. A. Kolesnikov, A. V. Vasilenko, A. P. Pchelyakov, O. P. Romanov, S. I. Sokolov, L. V. Trukhanov, E. M. |
| Verschenen in: |
Instruments and experimental techniques |
| Paginering: | Jaargang 43 () nr. 2 pagina's 271-274 |
| Jaar: |
2007-11-18 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Nauka/Interperiodica, Moscow |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |