|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Bayesian Reliability Demonstration |
| Auteur: |
Schick, George J. Drnas, Thomas M. |
| Verschenen in: |
IIE transactions |
| Paginering: | Jaargang 4 (1972) nr. 2 pagina's 92-102 |
| Jaar: |
1972-06-01 |
| Inhoud: |
A Bayesian approach to reliability demonstration testing is described and differences between the Bayesian viewpoint and the commonly employed classical approach are highlighted. A procedure for selecting a specific inverted gamma probability density to characterize the prior distribution of the MTBF of electronic hardware is developed and a table of Bayesian demonstration plans for a practical range of input parameters is provided. In addition, procedures for the implementation of the plans and two illustrative examples are given. Finally, two commonly employed classical plans are compared to a Bayesian plan illustrating the efficiency of the latter in terms of demonstration test time requirements. |
| Uitgever: |
Taylor & Francis |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |