Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 2 van 12 gevonden artikelen
 
 
  A mean-shift pattern study on integration of SPC and APC for process monitoring
 
 
Titel: A mean-shift pattern study on integration of SPC and APC for process monitoring
Auteur: Tsung, Fugee
Tsui, Kwok-Leung
Verschenen in: IIE transactions
Paginering: Jaargang 35 (2003) nr. 3 pagina's 231-242
Jaar: 2003-03
Inhoud: To detect a long-term mean shift of an autocorrelated process, traditional Process Control (SPC) techniques can be applied to monitor a process with Automatic Process Control (APC) or Engineering Process Control (EPC). In this paper, we investigate the relationships between the run-length performance, the mean-shift pattern, and the autocorrelation structure of the original process. For both monitoring the output and monitoring the control action of the APC-controlled process, we study how the mean-shift pattern affects the run-length distribution of the monitoring process. We compare the performance of the two monitoring approaches and make recommendations for various autocorrelated processes. We find that one can indicate the average run-length performance of an automatic-controlled process by examining the mean-shift pattern of the monitoring process.
Uitgever: Taylor & Francis
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 2 van 12 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland