|
Isothermal defect annealing in semiconductors investigated by time-delayed Mössbauer spectroscopy: application to ZnO |
|
|
|
Titel: |
Isothermal defect annealing in semiconductors investigated by time-delayed Mössbauer spectroscopy: application to ZnO |
Auteur: |
Gunnlaugsson, H. P. Weyer, G. Mantovan, R. Naidoo, D. Sielemann, R. Bharuth-Ram, K. Fanciulli, M. Johnston, K. Olafsson, S. Langouche, G. |
Verschenen in: |
Hyperfine interactions |
Paginering: |
Jaargang 188 (2008) nr. 1-3 pagina's 85-89 |
Jaar: |
2008 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Springer Netherlands, Dordrecht |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|