|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Empirically evaluating flaky test detection techniques combining test case rerunning and machine learning models |
| Auteur: |
Parry, Owain Kapfhammer, Gregory M. Hilton, Michael McMinn, Phil |
| Verschenen in: |
Empirical software engineering |
| Paginering: | Jaargang 28 () nr. 3 pagina's xx |
| Jaar: |
2023-04-28 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |