|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Predicting software defect type using concept-based classification |
| Auteur: |
Patil, Sangameshwar Ravindran, B. |
| Verschenen in: |
Empirical software engineering |
| Paginering: | Jaargang 25 () nr. 2 pagina's 1341-1378 |
| Jaar: |
2020-02-12 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |