|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Genetic Algorithm-based Test Generation for Software Product Line with the Integration of Fault Localization Techniques |
| Auteur: |
Li, Xuelin Wong, W. Eric Gao, Ruizhi Hu, Linghuan Hosono, Shigeru |
| Verschenen in: |
Empirical software engineering |
| Paginering: | Jaargang 23 (2017) nr. 1 pagina's 1-51 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |