|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Global vs. local models for cross-project defect prediction |
| Auteur: |
Herbold, Steffen Trautsch, Alexander Grabowski, Jens |
| Verschenen in: |
Empirical software engineering |
| Paginering: | Jaargang 22 (2016) nr. 4 pagina's 1866-1902 |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |