|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 6 gevonden artikelen
| Titel: |
Can traditional fault prediction models be used for vulnerability prediction? |
| Auteur: |
Shin, Yonghee Williams, Laurie |
| Verschenen in: |
Empirical software engineering |
| Paginering: | Jaargang 18 (2011) nr. 1 pagina's 25-59 |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 6 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |