|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Finite Sample Lag Adjusted Critical Values and Probability Values for the Fourier Wavelet Unit Root Test |
| Auteur: |
Sephton, Peter S. |
| Verschenen in: |
Computational economics |
| Paginering: | Jaargang 64 () nr. 2 pagina's 693-705 |
| Jaar: |
2023-09-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |