|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 72 gevonden artikelen
| Titel: |
An industrial small surface defect detection technique based on CEYolo model |
| Auteur: |
Li, Biao Wang, Bing Hu, Xiong |
| Verschenen in: |
Cluster computing |
| Paginering: | Jaargang 28 () nr. 8 pagina's xx |
| Jaar: |
2025-08-22 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 72 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |