|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 171 van 243 gevonden artikelen
| Titel: |
Patch based fast noise level estimation using DCT and standard deviation |
| Auteur: |
Mohan, S. B. Raghavendiran, T. A. Rajavel, R. |
| Verschenen in: |
Cluster computing |
| Paginering: | Jaargang 22 () nr. supplement-6 pagina's 14495-14504 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 171 van 243 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |