|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 153 van 261 gevonden artikelen
| Titel: |
Method and application of data defect analysis based on linear discriminant regression of far subspace |
| Auteur: |
Lv, Wendai |
| Verschenen in: |
Cluster computing |
| Paginering: | Jaargang 22 (2018) nr. supplement-2 pagina's 4277-4282 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 153 van 261 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |