|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of the Lag Effect in X-Ray Flat-Panel Detector for Cone-Beam Computed Tomography |
| Auteur: |
Avakyan, A. K. Dergacheva, I. L. Elanchik, A. A. Krylova, T. A. Lobzhanidze, T. K. Polikhov, S. A. Smirnov, V. P. |
| Verschenen in: |
Biomedical engineering |
| Paginering: | Jaargang 54 () nr. 3 pagina's 179-183 |
| Jaar: |
2020-09-10 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |