|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Determination of X-Ray Beam Characteristics from the Secondary Radiation Field Profile |
| Auteur: |
Lelyukhin, A. S. |
| Verschenen in: |
Biomedical engineering |
| Paginering: | Jaargang 53 (2019) nr. 2 pagina's 121-124 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |