Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 20 van 77 gevonden artikelen
 
 
  Deep metric learning-based side-channel analysis with improved robustness and efficiency
 
 
Titel: Deep metric learning-based side-channel analysis with improved robustness and efficiency
Auteur: Li, Kaibin
Liang, Yihuai
Meng, Hua
Zhou, Zhengchun
Verschenen in: Applied intelligence
Paginering: Jaargang 55 () nr. 10 pagina's xx
Jaar: 2025-05-02
Inhoud:
Uitgever: Springer US, New York
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 20 van 77 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland